【技術規格、效益說明】

數位記錄及量測系統，在近幾年科技的進步下，遂成為文化資產與藝術品不可或缺的應用技術，其精度與解析度更是與日俱增，故可演化為畫作缺陷辨識系統；本項技術透過預先取得全圖影像後，在透過細部檢視畫作是否存在缺陷，當發現畫作具有缺陷時儲存該缺陷畫面，並透過畫作瑕疵辨識系統計時運算後，於預先取得得全圖影像中即時標註記號，用以簡化畫作瑕疵找尋的流程，並有效減少後續標注所需的時間。本系統在產業應用方面，不僅可適用於文化資產與藝術品之修復作業，更能進一步作為該文物之科學履歷，在出入庫、展覽與運輸前後，檢視作品是否因外力或操作不當而產生損傷，協助釐清責任之歸屬。

【亮點成果】

本項研發成果獲得2022年第16屆波蘭國際發明展（金牌）、2020年第16屆烏克蘭國際發明展（金牌）、2021第32屆馬來西亞ITEX國際發明創新科技展（銀牌），取得中華民國新型專利（M601820）、發明型專利（I773996）及日本新型專利（第3230218號）。